Santec是一套亞微米級精度光纖與光子器件測試系統：

• 實現對來自波導傳播損耗的表徵反射點及缺陷位置的高精度檢測。
• 顯著提升了對非偏振保持器件微小損耗的精確測量。
• 同時確保更高的測量重複性與可靠性。
• 支援矽片上 SiO、SiN、GaAs、InP 材料異質結合。

目前，應用 ng 有效群折射率引入，更廣泛應用於從研發階段到生產流程的高階系統 Fault Location 分析場景。

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