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LuQY Pro


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代碼 QYB01

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LuQY Pro

 

PL, EL Quantum Yield and QFLS Measurement System

 

Records Absolute Electro- and Photoluminescence(EL and PL) Emission Spectra
& Directly Calculates Quantum Yield (QY) and Quasi-Fermi Level Splitting (QFLS)

 

硬體

  • 雷射:532 nm,強度可調範圍為 0.0001-10「太陽」
  • 光譜儀:絕對光子通量範圍 550–1050 nm
  • EL/PLQY 靈敏度範圍:>1E-4 %
  • SMU:電流/電壓偏壓與感測

 

軟體

  1. 1.測量單一或多重 EL/PL 光譜
  2. 2.即時計算 PLQY/ELQY 與 QFLS
  3. 3.自動化測量掃描,涵蓋廣泛的雷射強度與電偏壓範圍,可實現整合的理想因子與擬 JV 曲線構建

 

應用

  1. 1.分析半導體薄膜、層堆或完整器件(如太陽能電池或 LED)中的體與界面復合損失。
  2. 2.瞬態效應:快速數據採集可解析發射光譜、EL/PLQY 與 QFLS 在 1 毫秒至數小時內的變化。
  3. 3.理想因子與擬 JV 曲線:深入分析效率潛力與損失機制。
  4. 4.品質評估:用於每個製造步驟後的快速流程控制,或加速材料與製程參數篩選。

 




 

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