LuQY Pro

LuQY Pro

PL, EL Quantum Yield and QFLS Measurement System

Records Absolute Electro- and Photoluminescence(EL and PL) Emission Spectra
& Directly Calculates Quantum Yield (QY) and Quasi-Fermi Level Splitting (QFLS)

硬體

• 雷射：532 nm，強度可調範圍為 0.0001-10「太陽」
• 光譜儀：絕對光子通量範圍 550–1050 nm
• EL/PLQY 靈敏度範圍：>1E-4 %
• SMU：電流/電壓偏壓與感測

軟體

1. 1.測量單一或多重 EL/PL 光譜
2. 2.即時計算 PLQY/ELQY 與 QFLS
3. 3.自動化測量掃描，涵蓋廣泛的雷射強度與電偏壓範圍，可實現整合的理想因子與擬 JV 曲線構建

應用

1. 1.分析半導體薄膜、層堆或完整器件（如太陽能電池或 LED）中的體與界面復合損失。
2. 2.瞬態效應：快速數據採集可解析發射光譜、EL/PLQY 與 QFLS 在 1 毫秒至數小時內的變化。
3. 3.理想因子與擬 JV 曲線：深入分析效率潛力與損失機制。
4. 4.品質評估：用於每個製造步驟後的快速流程控制，或加速材料與製程參數篩選。

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