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少子壽命測試儀Sinton WCT-120MX+Suns VocMX介紹
2026.10.29
2026
Sinton QSSPC 測試技術是業界唯一完全符合最新 SEMI PV13-0211 測試規範的量測系統，其測試方式採用渦電流少子壽命測試原理（Eddy-current Photoconductance Decay）。
量測結果包括：
| Lifetime at Spec. MCD (µs) | 瞬態（量測壽命與估計的體壽命相同）、准穩態（量測壽命小於估計的體壽命） |
| Total Sheet Resistance (Ω/sq) | 方塊電阻值 |
| Measured Resistivity (Ω-cm) | 電阻率 |
| Jo at 25℃ (A/cm²) | 飽和電流密度 |
| Estimated Bulk Lifetime (µs) | 估計體壽命 |
| Jo Fit R² | 給線性回歸方程擬合優度來進行最佳的 Jo 擬合 |
| Lifetime at Implied Vmp (µs) | 最大功率點對應的少子壽命值 |
| Min and Max MCD (cm⁻³) | 指定載子濃度在這兩值之間 |
| Bias point CD (cm⁻³) | 偏置光相對應的載流子濃度 |
| Trap Density (cm⁻³) | 偏置光相對應的陷阱密度近似值 |
| Doping (cm⁻³) | 通過電阻率和摻雜類型得出 |
| 1Sun Implied Voc (V) | 1Sun 下的 Voc |
| Implied FF (%) | 填充因數 |
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