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Characterization Suite 4.5 協助研究人員更充分地取得Paios、Phelos與Litos的價值

2026.7.13 2026

在許多實驗室中,"完成一次測量" 本身早已不再是瓶頸。真正的挑戰在於:如何從原始資料中提煉出可靠、可 比較、能夠支撐決策的結果。

例如, OLED的瞬態測量結果也許看起來很有意思,但後續的擬合與解讀往往都花費大量時間;一種新型鈣 鈦礦太陽能電池結構或許展現出潛力,但接下來的問題還要回答:這個信號是否是真實的,還是偶然現象?能 否重複?同時,穩定性測試往往需要持續數天甚至數週,而在實驗過程中插入測量、改變溫度條件或中間測量 光照循環,通常仍離不開額外的人工操作。

正是在這樣的背景下, Characterization Suite 4.5 應運而生。

透過此次發布,Fluxim對配套Paios、Phelos和Litos使用的軟體環境進行了升級。它帶來的不僅是一份更長的 功能列表,更是一套面向實際科研場景、更穩定高效的工作流程,幫助從事OLED、太陽能電池、光電探測 器及穩定性研究的科研人員,更快地從"完成測量"走向"理解結果"。

 

CS 4.5的主要更新

Characterization Suite 4.5進一步提升了Paios、Phelos和Litos軟體環境的穩定性與易用性。本次發布基於全新重構的64位元軟體架構,結合更完善的後處理功能、更多測量選項以及更高水準的自動化能力,幫助使用者在日常電學—光學表徵和穩定性研究中,更有效率地完成從資料收集到初步分析的全過程。

  • 更穩健的軟體基礎: 遷移至64位元LabVIEW,並對整體架構進行重構,同時優化記憶體處理、引入基於SQLite的流程與結果管理機制,從而顯著提升系統的穩定性與可維護性。
  • 更強的內建後處理能力: 針對瞬態、交流和直流測量,新增更多自動計算參數與擬合功能,涵蓋IMPS、MELS、MPLS、TPC/TPV、pseudo-PCE 以及光譜響應度等分析,減少手動處理資料的負擔。
  • 更豐富的Paios工作流程: 在Paios平台中新增對基於PMT的電致發光檢測支持,引入全新的光致發光模式,並擴展了更多調製與瞬態測量類型。
  • 更有效率的Phelos分析流程: 可更快速地獲得法線方向的IVL數據,並進一步優化後處理中得幾何因子修正。
  • 更完善的Litos長期穩定性研究支援:新增模板,提供更清晰的中間數據概覽與更高的時間分辨率,並初步支援面向自動化實驗流程的Python API。

 

針對Paios 、Phelos與Litos的更新細節

CS 4.5 不少改進,未必能從幾張截圖中一眼看出來,卻會在日常使用中帶來實實在在的提升。我們的測量軟體工程師對大部分程式碼庫進行了重構,遷移至64位元LabVIEW,優化了記憶體處理,並為測量流程、裝置參數和關鍵結果引入了SQLite資料庫。落實到實際使用中,這意味著軟體更加穩定、維護更加便捷,也為後續功能擴展打下了更紮實的基礎。對終端使用者來說,這樣的改進之所以重要,是因為可靠的軟體能讓整天的測量工作保持高效順暢,而不是不斷被各種小問題打斷。

同時,CS 4.5 也進一步擴展了軟體在「完成測量」之後的能力。全新的自動與基礎後處理例程,使用戶能夠以更少的手動操作,直接提取更多有價值的參數。新增的自動計算內容包括:

  • 由IMPS得到的小訊號EQE
  • 由TPC 提取的EQE(支援偏壓光或偏壓條件)
  • 由白光測量得到的pseudo-PCE
  • 使用經校準的單色LED來表徵光電探測器時的光譜響應度
 

此外,基礎後製功能中也新增了多種擬合例程。例如,可從TPC的上升沿與衰減過程中提取特徵時間,從TPV衰減中提取複合壽命;同時,我們也為injection-CELIVMIS-CELIV增加了CELIV遷移率方程式。對使用者而言,這意味著為了回答一些基礎物理問題,不再需要頻繁地將資料匯出到外部工具中處理,從而節省時間,也讓分析流程更加連貫。

 

Paios應用場景——當你希望從電學-光學測量中挖掘更多信息

 

對許多Paios用戶來說,他們的核心訴求其實很明確:既希望能夠全面表徵器件,又不想依賴東拼西湊的多套工具,更不想花大量時間去手動解讀每一條瞬態測試曲線。

而這正是CS 4.5 的價值所在。

 

應用場景1:更清楚分辨微弱或高速變化的電致發光訊號

CS 4.5 為Paios新增了對光電倍增管(PMT)模組的支持,可用於rampedpulsed JVL瞬態EL以及用戶自訂實驗。與預設配置中的光電二極體相比,PMT具有更大的動態範圍,以及更高的時間解析度和訊號靈敏度。目前版本支援可門控(gated)的Hamamatsu PMT,並透過新的擴充盒整合門控電壓控制與自動增益調節功能。對於需要研究微弱發光訊號或快速發光流程的使用者來說,這意味著無需離開Paios現有工作流程,就能獲得更高效能的測量能力。

 

應用場景2:在Paios中直接進行光致發光研究

CS 4.5 透過整合LED與光電探測器配置,為Paios Combo(PV+LED)版本新增了光致發光(PL)模式。透過此模式,用戶可在直流交流時域條件下,對薄膜、太陽能電池以及完整OLED裝置進行PL測量。其中,最值得關注的新增實驗類型之一,是調製光致發光光譜( Modulated Photoluminescence Spectroscopy,MPLS)。 MPLS不僅適用於OLED相關的PL猝滅研究,也適用於鈣鈦礦類樣品;在這類樣品中,調製頻率依賴性可用於提取與離子遷移等慢過程相關的特徵時間。對使用者而言,這項功能的實際意義在於:Paios現在能夠支援更廣泛的現代光電子實驗,而無需額外搭建另一套測量鏈路。

 

應用場景3:更快從瞬態與交流測量中獲得初步判斷

對許多課題組而言,真正的難題並不在於能否採集到TPC、TPV、IMPS等數據,而在於軟體能否足夠快速地將這些數據轉化為可解讀的結果,進而幫助研究人員判斷器件狀態,並指導下一輪製備與優化。 CS 4.5 正是針對這項需求進行了改進。新增的自動計算與基礎後處理擬合功能,可直接給出由IMPS擷取的小訊號EQE、由TPC擷取的EQE,以及TPC/TPV的衰減擬合結果。這樣一來,Paios不再只是一個測量平台,也成為載子輸運與複合過程研究中的初步分析工具,從而在實際科研工作中發揮更大價值。

取得Paios報價

 

Phelos應用場景-讓角度資料更具實用價值

對許多Phelos使用者來說,日常工作往往圍繞著基礎材料研究和裝置堆疊設計展開,這類工作通常流程長、環節多。他們既需要取得角度相關的PL或EL數據,也希望盡快提煉出能夠真正指導元件開發的關鍵參數。

CS 4.5 正是為此讓整個流程變得更直接、更有效率

 

應用場景1:更有效率地取得OLED效率曲線

應用場景2:減少後處理中因幾何因素帶來的偏差

CS 4.5 也進一步優化了Phelos的基礎後處理功能,包括更方便的形狀因子處理、自動保留上次設置,以及在考慮幾何因子的基礎上,更準確地評估外部量子效率發光效率功率效率等參數。對使用者而言,這意味著原本一次順利完成的角度測量,不必再因為後處理繁瑣而拖慢整個分析流程。

取得Phelos報價

 

Litos應用場景-讓長期穩定性研究更少依賴人工幹預

對許多Litos用戶來說,他們面臨的挑戰往往有所不同。穩定性測試系統的價值,不僅在於能否長時間穩定運行實驗,更在於能否持續捕捉有意義的中間數據,並盡量減少反覆人工幹預。

而這正是CS 4.5此次優化工作流程的重點。

應用場景1:更全面追蹤裝置老化過程中的變化

CS 4.5為Litos PVLitos OLED以及Litos-Paios組合新增了多種模板,並進一步優化了中間測量功能。使用者現在可以在中間JV光譜測量中使用「Show all」選項,也可以在系統處於穩定狀態時啟動中間測量。對於進行長期衰減研究的實驗室來說,這意味著裝置演進過程中的關鍵數據將更容易被完整記錄、檢視和解讀。此外,CS 4.5也支援最短1秒的資料記錄間隔,這在老化實驗剛啟動時、或需要檢查所有像素初始效能時尤其有幫助。

 

應用場景2:自動化光照循環與溫度相關測試流程

對使用者而言,這次更新中最具實際價值的新功能之一,是第一個面向Litos的Python API。透過此接口,使用者可以更方便地實現光照循環、自動溫度掃描等實驗流程,包括在不同溫度下自動執行IV測量,以及在與Paios聯用時,在受控溫度變化條件下進行自動化高級表徵。對終端用戶來說,這意味著實驗過程中所需的人工幹預將進一步減少,同時也讓整個平台具備了更高的可程式性與自動化靈活性。

 

應用場景3:讓穩定性與表徵流程更順暢地鏈接

CS 4.5 也帶來了多項實用改進,例如更快匯出Key Results、進一步優化中間測量的處理方式,以及一系列提升日常使用體驗的細節修復。這些更新或許不算最醒目的“主打功能”,但對於需要進行長期實驗的用戶來說,實際價值往往更高。它們減少了資料整理和處理過程中的額外工作,也讓Litos資料更容易融入更完整的表徵流程中,從而幫助使用者更順暢地銜接穩定性測試與其他測量分析工作。

取得Phelos報價

 

一次真正圍繞科學研究工作流程打造的軟體升級

CS 4.5的價值,並不僅僅體現在某一項單獨的新功能上,而在於三方面改進的協同作用:

  • 軟體基礎更加穩健
  • 更多關鍵參數可在工作流程中直接擷取
  • 各項改進都緊貼實驗室的真實需
 

Paios用戶來說,這意味著原本難以分辨的瞬態EL訊號,如今可以藉助PMT獲得更清晰的時間分辨資料。對於Phelos用戶來說,這意味著可以先取得法線方向的IVL結果,再更有針對性地決定是否進行完整的角度相關掃描。對於Litos使用者來說,這則意味著能夠以更少的人工幹預,進行持續時間更長、自動化程度更高的穩定性研究。

Characterization Suite 4.5進一步升級了PaiosPhelosLitos的軟體體驗,更好地回應科學研究人員在日常工作中的實際需求:更清楚地識別複雜訊號、減少繁瑣的手動後處理、提升實驗可重複性,並讓各個測量環節之間的銜接更加順暢。

對於從事OLED、太陽能電池、光電探測器及裝置穩定性研究的實驗室而言,CS 4.5這次發布的意義,不在於單純增加了多少新功能,而在於讓原本複雜的高階表徵流程更易開展,也更易解讀。

 

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如果您有興趣升級至Characterization Suite 4.5,歡迎聯絡我們,一起探討最適合您Paios、Phelos或Litos系統的升級方案。凡在過去12個月內購買儀器的客戶,均可免費獲得本次更新。

 

文中縮寫說明

縮寫 英文全稱 中文翻譯
CS Characterization Suite 表徵套件
LED Light-Emitting Diode 發光二極體
OLED Organic Light-Emitting Diode 有機發光二極體
PV Photovoltaic 光電
PMT Photomultiplier Tube 光電倍增管
EL Electroluminescence 電致發光
PL Photoluminescence 光致發光
IMPS Intensity-Modulated Photocurrent Spectroscopy 強度調製光電流光譜
MELS Modulated Electroluminescence Spectroscopy 調製電致發光光譜
MPLS Modulated Photoluminescence Spectroscopy 調製光致發光光譜
TPC Transient Photocurrent 瞬態光電流
TPV Transient Photovoltage 瞬態光電壓
PCE Power Conversion Efficiency 功率轉換效率
EQE External Quantum Efficiency 外部量子效率
CELIV Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage 線性遞增電壓電荷提取法
IV Current-Voltage 電流-電壓
IVL Current-Voltage-Luminance 電流-電壓-亮度
JV Current Density-Voltage 電流密度-電壓
JVL Current Density-Voltage-Luminance 電流密度-電壓-亮度
API Application Programming Interface 應用程式介面
LabVIEW Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench 實驗室虛擬儀器器工程平台
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